產(chǎn)品中心
Product Center
熱門搜索：
GCSTD-D高低頻介電常數(shù)試驗(yàn)測(cè)試儀
GDW-250電阻高溫度特性測(cè)試試驗(yàn)臺(tái)
NLD-AI全自動(dòng)高壓漏電起痕試驗(yàn) 漏電測(cè)試儀
GEST-121體積表面電阻測(cè)定儀
GCDDJ-100Kv電壓擊穿試驗(yàn)儀
GEST-122多功能炭素電極電阻率測(cè)試儀
GEST-122多功能炭素粉末石墨電阻率測(cè)量?jī)x
GCSTD-FI液體高低介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀
PMQS-I新款國(guó)產(chǎn)泡沫起升儀PMQS
FTDZ-I粉末電阻率測(cè)試儀
PMQS-IPMQS泡沫起升儀
GCDDJ-50Kv電壓擊穿強(qiáng)度試驗(yàn)儀
MCTH-500新款MCTH碳滑板摩擦磨損試驗(yàn)機(jī)
PMQS-I新款泡沫起升儀PMQS
GCSTD-A/B液體絕緣材料高頻介電常數(shù)測(cè)試儀
GEST-122炭素材料石墨電極電阻率測(cè)試儀
當(dāng)前位置：首頁(yè)
產(chǎn)品中心比表面測(cè)試儀202A-比表面儀孔徑分析儀
product
產(chǎn)品分類
比表面積孔徑測(cè)試分析檢測(cè)儀器借助于氣體吸附原理（典型為氮?dú)猓健⒚摳降葴鼐€測(cè)定。單點(diǎn)和多點(diǎn)BET比表面積。Langmuir比表面積測(cè)定。粒度估算和真密度測(cè)試、孔隙率及孔隙度分析。BJH介孔、大孔分析。t-plots圖法微孔分析，以及外表面積測(cè)定。as-plots微孔總面積。MP法微孔分析。
更新時(shí)間：2025-01-02
產(chǎn)品型號(hào)：BETA202A
瀏覽量：1083
Langmuir比表面積及孔徑測(cè)試儀借助于氣體吸附原理（典型為氮?dú)猓健⒚摳降葴鼐€測(cè)定。單點(diǎn)和多點(diǎn)BET比表面積。Langmuir比表面積測(cè)定。粒度估算和真密度測(cè)試、孔隙率及孔隙度分析。BJH介孔、大孔分析。t-plots圖法微孔分析，以及外表面積測(cè)定。as-plots微孔總面積。MP法微孔分析。
更新時(shí)間：2025-01-02產(chǎn)品型號(hào)：BETA202A瀏覽量：1069
BET比表面積及孔徑測(cè)試儀借助于氣體吸附原理（典型為氮?dú)猓健⒚摳降葴鼐€測(cè)定。單點(diǎn)和多點(diǎn)BET比表面積。Langmuir比表面積測(cè)定。粒度估算和真密度測(cè)試、孔隙率及孔隙度分析。BJH介孔、大孔分析。t-plots圖法微孔分析，以及外表面積測(cè)定。as-plots微孔總面積。MP法微孔分析。
更新時(shí)間：2025-01-02產(chǎn)品型號(hào)：BETA202A瀏覽量：2162
微孔分析 比表面積及孔徑測(cè)試儀借助于氣體吸附原理（典型為氮?dú)猓健⒚摳降葴鼐€測(cè)定。單點(diǎn)和多點(diǎn)BET比表面積。Langmuir比表面積測(cè)定。粒度估算和真密度測(cè)試、孔隙率及孔隙度分析。BJH介孔、大孔分析。t-plots圖法微孔分析，以及外表面積測(cè)定。as-plots微孔總面積。MP法微孔分析。
更新時(shí)間：2025-01-02產(chǎn)品型號(hào)：BETA202A瀏覽量：2190
as-plots微孔分析比表面積及孔徑測(cè)試儀借助于氣體吸附原理（典型為氮?dú)猓健⒚摳降葴鼐€測(cè)定。單點(diǎn)和多點(diǎn)BET比表面積。Langmuir比表面積測(cè)定。粒度估算和真密度測(cè)試、孔隙率及孔隙度分析。BJH介孔、大孔分析。t-plots圖法微孔分析，以及外表面積測(cè)定。as-plots微孔總面積。MP法微孔分析。
更新時(shí)間：2025-01-02產(chǎn)品型號(hào)：BETA202A瀏覽量：1925